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Keine ausf�hrliche Beschreibung f�r “Angewandte Oberfl�chenanalyse mit SIMS, AES und XPS” verf�gbar.Typham this is the title: Angewandte Oberfl�chenanalyse mit SIMS, AES und XPS 1st Edition
vbid/9783112702673
$119.19
Author(s): Manfred Grasserbauer; Hans Joachim Dudek; Maria F. Ebel
Publisher: De Gruyter
ISBN: 9783112702666
Edition: 1st Edition
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