vbid/9783642560798

Description

Die Beugung von R�ntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerst�rungsfreien Identifikation von Festk�rperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern (PCs) und von schnelleren Detektoren hat in der R�ntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten gef�hrt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und �bungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird au�erdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegen�ber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausf�hrlicher behandelt.Typham this is the title: R�ntgen-Pulverdiffraktometrie Rechnergest�tzte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung 2nd Edition